https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350035
標題: | Characterization of 1/f noise vs. number of gate stripes in MOS transistors | 作者: | Chen Hsin-Shu Ito Akira HSIN-SHU CHEN |
公開日期: | 1999 | 卷: | 2 | 來源出版物: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0032738969&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350035 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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