https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350489
標題: | Dynamic bias temperature instability of p-channel polycrystalline silicon thin-film transistors | 作者: | CHEE-WEE LIU Huang, C.-F. Sun, H.-C. Kuo, P.-S. Chen, Y.-T. Liu, C.W. Hsu, Y.-J. Chen, J.-S. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2009 | 起(迄)頁: | 158-162 | 來源出版物: | International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-71049150151&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/350489 |
DOI: | 10.1109/IPFA.2009.5232678 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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