https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359581
標題: | DFT and Minimum Leakage Pattern Generation for Static Power Reduction During Test and Burn-in | 作者: | CHIEN-MO LI W.-C. Kao W.-S. Chuang H.-T. Lin J. C.-M. Li V, Manquinho CHIEN-MO LI |
公開日期: | 三月-2010 | 卷: | 18 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 392-400 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359581 | DOI: | 10.1109/TVLSI.2008.2011048 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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