https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370331
標題: | Two-state trap-assisted tunneling current characteristics in Al 2O 3/SiO 2/SiC structures with ultrathin dielectrics | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 2012 | 卷: | 11 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 871-876 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Nanotechnology | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84866072829&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370331 |
DOI: | 10.1109/TNANO.2012.2202399 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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