https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370964
標題: | Hole mobility boost of Ge p-MOSFETs by composite uniaxial stress and biaxial strain | 作者: | CHIH-WEN LIU Lan, H.-S. Chen, Y.-T. Lin, J.-Y. CHIH-WEN LIU |
公開日期: | 2012 | 卷: | 50 | 期: | 9 | 起(迄)頁: | 151-155 | 來源出版物: | ECS Transactions | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84885718049&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370964 |
DOI: | 10.1149/05009.0151ecst |
顯示於: | 電機工程學系 |
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