https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/373975
標題: | Grain-Boundary Impact Ionization-Induced Current Hump Effects of Polysilicon TFTs | 作者: | T. C. Liu J. B. Kuo S. Zhang JAMES-B KUO |
公開日期: | 十一月-2012 | 來源出版物: | IEDMS | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/373975 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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