https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/373978
標題: | Modeling Hot-Carrier-Induced Reliability of Poly-silicon Thin Film Transistors | 作者: | L. L. Wang J. B. Kuo S. Zhang JAMES-B KUO |
公開日期: | 十二月-2012 | 來源出版物: | IEEE International Conference on Electron Devices and Solid State Circuit | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/373978 | DOI: | 10.1109/EDSSC.2012.6482798 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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