https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374345
標題: | Launch-on-Shift Test Generation for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains, | 作者: | S. Wu L. T. Wang X. Wen W. B. Jone M. S. Hsiao F. Li J. C. M. Li J. L. Huang CHIEN-MO LI JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 一月-2012 | 卷: | 17 | 期: | 4 | 來源出版物: | ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES) | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374345 | DOI: | 10.1145/2348839.2348852 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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