https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381391
標題: | Analytical Drain Current Model for Poly-Si Thin-Film Transistors Biased in Strong Inversion Considering Degradation of Tail States at Grain Boundary | 作者: | L. L. Wang J. B. Kuo S. Zhang JAMES-B KUO |
公開日期: | 三月-2013 | 卷: | 60 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 1122-1127 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381391 | DOI: | 10.1109/TED.2012.2236332 |
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