https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381396
標題: | Back-Gate Bias Effect of PD SOI NMOS Device Considering BJT | 作者: | D. H. Lung J. B. Kuo JAMES-B KUO |
公開日期: | 十二月-2013 | 來源出版物: | International Conference on EECS | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381396 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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