https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381690
標題: | Synergistic reliability and yield enhancement techniques for embedded SRAMs | 作者: | S.-K. Lu H.-H. Huang J.-L. Huang P. Ning JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 一月-2013 | 卷: | 32 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 165-169 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381690 | DOI: | 10.1109/TCAD.2012.2210420 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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