https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381692
標題: | On guaranteeing capture safety in at-speed scan testing with broadcast-scan-based test compression | 作者: | K. Enokimoto X. Wen K. Miyase J.-L. Huang S. Kajihara L.-T. Wang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 一月-2013 | 起(迄)頁: | 279-284 | 來源出版物: | International Conference on VLSI Design | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381692 | DOI: | 10.1109/VLSID.2013.201 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。