https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/411156
標題: | A NEMD study of the thermal conductivity and surface roughness of silicon thin films | 作者: | Chang T.-M. Weng C.-C. Huang M.-J. |
公開日期: | 2008 | 起(迄)頁: | 459-465 | 來源出版物: | ASME - 2nd International Conference on Integration and Commercialization of Micro Nanosystems | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-69949187194&doi=10.1115%2fMicroNano2008-70331&partnerID=40&md5=4b1c42707d58df7164e50aa5f7324089 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/411156 |
ISBN: | 0791842940; 9780791842942 | DOI: | 10.1115/MicroNano2008-70331 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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