https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/415020
標題: | Variability of impact life and reliability assessment of electronic packages | 作者: | Hsu Y. Wu W.F Su C.Y. |
公開日期: | 2010 | 起(迄)頁: | 849-852 | 來源出版物: | 2010 12th Electronics Packaging Technology Conference | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-79951893529&doi=10.1109%2fEPTC.2010.5702748&partnerID=40&md5=24d1eef3682704c57e86e14219b203b1 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/415020 |
ISBN: | 9781424485604 | DOI: | 10.1109/EPTC.2010.5702748 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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