https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/415565
標題: | Variability of impact life and reliability assessment of electronic packages | 作者: | Hsu, Y. Wu, W.F. Su, C.Y. |
公開日期: | 2010 | 來源出版物: | 12th Electronics Packaging Technology Conference, EPTC 2010 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/415565 | DOI: | 10.1109/EPTC.2010.5702748 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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