https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429063
標題: | Characterization of Ambient Light Induced Inversion Current in MOS(n) Tunneling Diode with Enhanced Oxide Thickness Dependent Performance | 作者: | Y.K.Lin H.H.Lin J.G.Hwu* JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2016 | 卷: | 63 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 22-26 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429063 | ISSN: | 189383 | DOI: | 10.1109/ted.2015.2496152 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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