https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429171
標題: | Origin of the Transient Current Peaks in MIS Structures Observed During I-V Measurement | 作者: | Y.H.Liu J.G.Hwu JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2018 | 起(迄)頁: | 2017-THU-P0202-P005 | 來源出版物: | International Electronic Devices and Materials Symposium - IEDMS 2018 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429171 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。