https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429927
標題: | Testing of TSV-induced small delay faults for 3-D integrated circuits | 作者: | Chun-Yi Kuo Chi-Jih Shih Yi-Chang Lu James C.-M. Li Krishnendu Chakrabarty YI-CHANG LU CHIEN-MO LI |
公開日期: | 2014 | 卷: | 22 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 2043-2052 | 來源出版物: | IEEE Trans. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429927 | ISSN: | 10638210 | DOI: | 10.1109/tvlsi.2013.2250320 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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