https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432651
標題: | Temperature effects on electromigration behavior of solder joints | 作者: | Ke J.-H. C. ROBERT KAO |
公開日期: | 2010 | 來源出版物: | International Microsystems Packaging Assembly and Circuits Technology Conference, 2010 and International 3D IC Conference | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-79951656069&doi=10.1109%2fIMPACT.2010.5699647&partnerID=40&md5=9dcb34ed16f30ccecb913ff8a6f8e347 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432651 |
ISBN: | 9781424497836 | DOI: | 10.1109/IMPACT.2010.5699647 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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