https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443458
標題: | Depth profiling the electronic structures at HfO<inf>2</inf>/Si interface grown by molecular beam epitaxy | 作者: | Lay, T.S. Chang, S.C. Din, G.J. Yeh, C.C. Hung, W.H. Lee, W.G. Kwo, J. Hong, M. MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2005 | 卷: | 23 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 1291-1293 | 來源出版物: | Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443458 | DOI: | 10.1116/1.1881633 |
顯示於: | 物理學系 |
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