https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/444828
標題: | In situ observation of crystal/melt interface and infrared measurement of temperature profile during directional solidification of silicon wafer | 作者: | Liao, T.-J. Kang, Y.S. Lan, C.W. CHUNG-WEN LAN |
公開日期: | 2018 | 卷: | 499 | 起(迄)頁: | 90-97 | 來源出版物: | Journal of Crystal Growth | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/444828 | DOI: | 10.1016/j.jcrysgro.2018.08.004 |
顯示於: | 化學工程學系 |
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