https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/451524
標題: | XRD characterization for Al- and N-doped 3C-SiC on Si (100) substrate after pulsed excimer laser anneal | 作者: | Lee, K.-Y. Huang, Y.-H. Huang, C.-F. Chung, C.Y. Lin, S.C. KUNG-YEN LEE |
公開日期: | 2012 | 卷: | 717-720 | 起(迄)頁: | 497-500 | 來源出版物: | Materials Science Forum | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/451524 | DOI: | 10.4028/www.scientific.net/MSF.717-720.497 |
顯示於: | 工程科學及海洋工程學系 |
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