https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/485314
標題: | Roughness-enhanced reliability of MOS tunneling diodes | 作者: | Lin, C.-H. Yuan, F. Shie, C.-R. Chen, K.-F. Hsu, B.-C. Lee, M.H. Pai, W.W. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2002 | 卷: | 23 | 期: | 7 | 起(迄)頁: | 431-433 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/485314 | ISSN: | 07413106 | DOI: | 10.1109/LED.2002.1015232 |
顯示於: | 凝態科學研究中心 |
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