https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491974
標題: | Durability to Electromigration of an Annealing-Twinned Ag-4Pd Alloy Wire Under Current Stressing | 作者: | Chuang, T.-H. Lin, H.-J. Chuang, C.-H. Tsai, C.-H. Lee, J.-D. Tsai, H.-H. TUNG-HAN CHUANG |
公開日期: | 2014 | 卷: | 45 | 期: | 12 | 起(迄)頁: | 5574-5583 | 來源出版物: | Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491974 | DOI: | 10.1007/s11661-014-2538-0 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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