https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497092
標題: | A New Analytic Formula for Minority Carrier Decay Length Extraction from Scanning Photocurrent Profiles in Ohmic-Contact Nanowire Devices | 作者: | Chu, C.-H. Mao, M.-H. Yang, C.-W. MING-HUA MAO HAO-HSIUNG LIN |
公開日期: | 2019 | 卷: | 9 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 9426- | 來源出版物: | Scientific reports | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497092 | DOI: | 10.1038/s41598-019-46020-2 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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