https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/498012
標題: | Data retention characterization of gate-injected gold-nanoparticle non-volatile memory with low-damage CF <inf>4</inf> -plasma-treated blocking oxide layer | 作者: | CHIH-I WU Liu, Y.-H. Kao, C.-H. Cheng, T.-C. Wu, C.-I. Wang, J.-C. CHIH-I WU |
公開日期: | 2017 | 卷: | 7 | 期: | 11 | 來源出版物: | Nanomaterials | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/498012 | DOI: | 10.3390/nano7110385 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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