https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/500452
標題: | X-ray absorption fine structure of ZnO thin film on Si and sapphire grown by MOCVD | 作者: | Xin, J. Chang, C.M. Hsueh, C.-H. Lee, J.-F. Chen, J.-M. Lin, H.-H. Lu, N. Ferguson, I.T. Guan, Y. Wan, L. Yang, Q. Feng, Z.C. HAO-HSIUNG LIN |
公開日期: | 2016 | 來源出版物: | 2016 5th International Symposium on Next-Generation Electronics, ISNE 2016 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/500452 | DOI: | 10.1109/ISNE.2016.7543313 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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