https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501306
標題: | Spectroscopic characterization of Si/Mo thin-film stack at extreme ultraviolet range | 作者: | Li, Y.-Y. Lee, Y.-W. Wu, I.-C. Huang, S.-L. SHENG-LUNG HUANG |
公開日期: | 2017 | 卷: | 2017-January | 起(迄)頁: | 1-2 | 來源出版物: | 2017 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2017 - Proceedings | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501306 | DOI: | 10.1364/CLEO_AT.2017.AF2B.6 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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