https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/549885
標題: | Advanced HEMT characteristics of epitaxial quality-improved GaN by using patterned sapphire | 作者: | CHIEH-HSIUNG KUAN Chien, C.Y. Huang, C.C. Yi, C.K. Yen, C.W. CHIEH-HSIUNG KUAN |
公開日期: | 2019 | 卷: | 89 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 35-38 | 來源出版物: | ECS Transactions | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85070059343&partnerID=40&md5=e0245109216ac6a1db4b695792cc67bc https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/549885 |
DOI: | 10.1149/08905.0035ecst |
顯示於: | 電機工程學系 |
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