https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559024
標題: | Prolonged Transient Behavior of Ultrathin Oxide MIS-Tunneling Diode Induced by Deep Depletion of Surrounded Coupling Electrode | 作者: | Hsu, T.-H. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2020 | 卷: | 67 | 期: | 8 | 起(迄)頁: | 3411-3416 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85090274971&partnerID=40&md5=aa8784a221896ca1daab055f541861db https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559024 |
DOI: | 10.1109/TED.2020.2998099 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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