https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559264
標題: | A Wide-Range Variation-Resilient Physically Unclonable Function in 28 nm | 作者: | Liang, Z.-Y. Wei, H.-H. Liu, T.-T. TSUNG-TE LIU |
公開日期: | 2020 | 卷: | 55 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 817-825 | 來源出版物: | IEEE Journal of Solid-State Circuits | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85080908049&partnerID=40&md5=8c0720f2899caf3e701d2a536f0411b6 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559264 |
DOI: | 10.1109/JSSC.2019.2942374 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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