https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/589588
標題: | Efficaciously modeling the exterior electrostatic problems with singularity for electron devices | 作者: | Y.S. Liao S.W. Chyuan J.T. Chen YUNN-SHIUAN LIAO |
公開日期: | 2004 | 起(迄)頁: | 25-34 | 來源出版物: | IEEE, Circuits and devices magazine | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/589588 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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