公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2011 | Test-Clock Domain Optimization for Peak Power-Supply Noise Reduction During Scan | CHIEN-MO LI ; R.Y. Wen; Y.C. Huang; M.H. Tsai; K.Y. Liao; J. C.-M. Li; M.-T. Chang; M.-H. Tsai; C.-M. Tseng; H.-C. Li; CHIEN-MO LI | International Test Conference |