https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/149697
標題: | Test Set Compaction for Combinational Circuits | 作者: | Chang, J. 林呈祥 Lin, Chen-Shang |
公開日期: | 十一月-1992 | 出版社: | Japan | 起(迄)頁: | 20-25 | 來源出版物: | Proceedings of Asian Test Symposium | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/121611 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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