https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/149737
標題: | Performance prediction and function recovery of CMOS circuits damaged by Co-60 irradiation | 作者: | Chang-Liao, K.-S. Hwu, J.-G. |
公開日期: | 七月-1992 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | Circuits, Devices and Systems, IEE Proceedings G | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/2007041910042711 | ISSN: | N/A | 其他識別: | 0956-3768 |
顯示於: | 電機工程學系 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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