https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/294588
標題: | Testing for Resistive and Stuck Opens | 作者: | CHIEN-MO LI Li, J. C.M. Tseng, C.W. E.J. McCluskey CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2001 | 起(迄)頁: | 1049-1058 | 來源出版物: | International Test Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/294588 | DOI: | 10.1109/test.2001.966731 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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