https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/296940
標題: | Role of stress in irradiation-then-anneal technique used for improving radiation hardness of metal-insulator-semiconductor devices | 作者: | Shu, K. Liao, C. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 1992 | 卷: | 61 | 期: | 6 | 起(迄)頁: | 675-677 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0012561306&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/296940 |
DOI: | 10.1063/1.107819 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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