https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/321642
標題: | Device scaling physics and channel velocities in AlGaN/GaN HFETs: Velocities and effective gate length | 作者: | Wu, YR Singh, M Singh, J YUH-RENN WU |
公開日期: | 2006 | 卷: | 53 | 期: | 4 | 起(迄)頁: | 588-593 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/321642 | DOI: | 10.1109/TED.2006.870571 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
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