https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/324147
標題: | Abnormal trend detection of sequence-disordered data using EWMA method | 作者: | Fan, Jr-Min RUEY-SHAN GUO SHI-CHUNG CHANG Lee, Jian-Huei |
公開日期: | 1996 | 起(迄)頁: | 169-174 | 來源出版物: | IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0030395438&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/324147 |
DOI: | 10.1109/asmc.1996.557991 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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