https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/338638
標題: | C-V hysteresis instability in aluminum/tantalum oxide/silicon oxide/silicon capacitors due to postmetallization annealing and Co-60 irradiation | 作者: | Hwu, Jenn-Gwo Jeng, Ming-Jer JENN-GWO HWU |
公開日期: | 1988 | 卷: | 135 | 期: | 11 | 起(迄)頁: | 2808-2813 | 來源出版物: | Journal of the Electrochemical Society | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0024106111&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/338638 |
DOI: | 10.1149/1.2095437 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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