https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366767
標題: | Clock-Gating-Aware Low Launch WSA Test Pattern Generation for At-Speed Scan Testing | 作者: | Y.-T. Lin J.-L. Huang X. Wen JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 九月-2011 | 來源出版物: | International Test Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366767 | DOI: | 10.1109/TEST.2011.6139132 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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