https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/394566
標題: | Analysis of Subthreshold Behavior of SOI NMOS De ice Considering Back-Gate-Bias-Related Flaoting Body Effect | 作者: | S. K. Hu JAMES-B KUO |
公開日期: | 三月-2015 | 來源出版物: | Workshop on Microelectronics and Electron Devices (WMED) | 描述: | Boise, USA |
URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/394566 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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