https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/399796
標題: | Investigation of interface property in Al/SiO2/n-SiC structure with thin gate oxide by illumination | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 四月-2017 | 卷: | 123 | 期: | 4 | 來源出版物: | Applied Physics A | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/399796 | DOI: | 10.1007/s00339-017-0897-2 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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