https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432889
標題: | Electronic and microstructure characterization of strontium-bismuth tantalate (SBT) thin films | 作者: | Hartmann A.J. Lamb R.N. Scott J.F. Johnston P.N. El Bouanani M. Chen C.W. Robertson J. CHUN-WEI CHEN |
公開日期: | 1998 | 卷: | 32 | 期: | 4 SUPPL. | 起(迄)頁: | S1329-S1331 | 來源出版物: | Journal of the Korean Physical Society | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-0032396464&partnerID=40&md5=b54066e00f3f5825ac56605aaafa8d91 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432889 |
ISSN: | 03744884 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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