https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/447950
標題: | The investigation of self-heating effect on Si<inf>1-x</inf>Ge<inf>x</inf> FinFETs with different device structures, Ge concentration, and operated voltages | 作者: | Liao, M.-H. Hsieh, C.-P. Lee, C.-C. MING-HAN LIAO |
公開日期: | 2017 | 卷: | 7 | 期: | 5 | 來源出版物: | AIP Advances | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/447950 | DOI: | 10.1063/1.4983401 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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