https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155950
標題: | Hole confinement at Si/SiGe heterojunction of strained-Si N and PMOS devices | 作者: | Wei, J.-Y. Maikap, S. Lee, M.H. Lee, C.C. Liu, C.W. |
公開日期: | 2006 | 卷: | 50 | 期: | 2 | 起(迄)頁: | 109-113 | 來源出版物: | Solid-State Electronics | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/148234 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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