https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429672
標題: | An IR-drop guided test pattern generation technique | 作者: | L.-C. Tsai J.-Z. Li Y.-T. Lin J.-L. Huang A. Shih Z. F. Conroy JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2016 | 來源出版物: | International Symposium on VLSI Design, Automation and Test | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429672 | DOI: | 10.1109/vlsi-dat.2016.7482581 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。