https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501356
標題: | A Multi-Fault Dynamic Compaction Technique for Test Pattern Count Reduction | 作者: | Li, B.-Y. JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2019 | 起(迄)頁: | 9-10 | 來源出版物: | Proceedings - International SoC Design Conference 2018, ISOCC 2018 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501356 | DOI: | 10.1109/ISOCC.2018.8649901 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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