https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/502114
標題: | BEOL TDDB reliability modeling and lifetime prediction using critical energy to breakdown. | 作者: | Chen, Pin-Shiang Lee, Shou-Chung Oates, A. S. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2018 | 起(迄)頁: | 6 | 來源出版物: | IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018, Burlingame, CA, USA, March 11-15, 2018 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/502114 | DOI: | 10.1109/IRPS.2018.8353626 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。