https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/516597
標題: | Comparative Leakage Analysis of GeOI FinFET and Ge Bulk FinFET | 作者: | V. P.-H. Hu M.-L. Fan P. Su C.-T. Chuang VITA PI-HO HU V. P.-H. Hu M.-L. Fan P. Su C.-T. Chuang 胡璧合 |
公開日期: | 2013 | 卷: | 60 | 起(迄)頁: | 3596-3600 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/516597 | DOI: | 10.1109/ted.2013.2278032 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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